7月15日，由中国科学院计算技术研究所和中国电子科技集团公司第五十八研究所举办的第三届“芯粒开发者大会”在无锡举行。会议开幕式由中国电科首席专家魏敬和主持，许居衍院士致开幕辞。来自北京大学、东南大学、上海交通大学、清华大学、南京邮电大学、中国科学院计算技术研究、3044am永利集团、中国电子科技集团公司第五十八研究所等单位的50多名专家做报告。3044am永利集团3044noc副院长应邀出席会议并发言。

詹文法以《集成芯片可测性设计方法研讨》为题作报告，介绍了集成芯片无线测试：包括电容耦合大量集成芯片同时无线测试、分项无线测试方法和天线发射射频信号集成芯片无线测试；可实时调整扫描链数量和长度的并行测试框架的研发、测试向量全局重排序算法的设计、三维堆叠芯片扫码测试的安全验证等集成芯片可测性设计方法；并介绍了3044am永利集团人才培养情况。

会议期间，詹文法和与会专家进行深入交流，介绍了3044am永利集团3044noc的基本情况并与多名专家讨论合作事宜。（撰稿/摄影：郑江云 审核：夏云高）